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      發表人:viteverest 發表時間:2022-3-30 13:34:00  

       

       本欄論題: 工業內窺鏡先進測量技術的原理是怎樣的?  [1068]

          目前工業內窺鏡所采用的先進測量技術,當屬相位掃描三維立體測量技術,了解其原理之前,先簡要介紹光學測量。
         
          光學測量主要用于測量物體位移、變形、三維形貌等,其核心在于利用光干涉法或投影條紋法,得到具有載頻的變形條紋圖,然后從變形的條紋圖中提取代表特定物理量的相位信息,這個過程也稱為解調,用的比較多的相位解調方法有相移法和傅里葉變換法等。
         
          相位掃描三維立體測量技術就是上述光學測量原理在內窺檢測設備中的應用。具體在測量時,內窺檢測設備通過鏡頭上的光柵出口,向被檢物體表面投射光柵,同時內窺檢測設備的CCD捕獲被檢物體表面影像時,得到的是具有載頻的變形條紋圖,含有相位信息,采用相應的解調算法處理后,就可以提取被檢物體的三維形貌。
         
          這種技術的優勢在于可以獲取被檢物體的三維立體輪廓,屬于真正意義上的三維空間立體測量技術。用戶首先使用內窺鏡找到被檢物體的缺陷,例如凹坑,然后使用上述測量技術對缺陷進行測量,例如:測量凹坑的深度,由于通過光柵掃描及解調過程進行了三維建模,用戶可以實時看到凹坑所在區域的三維立體輪廓,并且可以旋轉不同角度,從而判斷凹坑最低點的選點是否正確,從而驗證測量結果的正確性。
         
         

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